日本HIOKI日置磁場測試儀 FT3470-52優勢供應
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產品名稱: 日本HIOKI日置磁場測試儀 FT3470-52優勢供應
產品型號: FT3470-52
產品展商: 日本HIOKI日置
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簡單介紹
日本HIOKI日置磁場測試儀 FT3470-52優勢供應
日本HIOKI日置磁場測試儀 FT3470-52優勢供應
日本HIOKI日置磁場測試儀 FT3470-52優勢供應
的詳細介紹
非常適用于3軸的磁通密度測量
● 適用于以ICNIRP2010準則為基礎的評估試驗
● 符合IEC/EN62233標準
● 標配適合用于空間分布調查的3cm2磁場傳感器和符合IEC/EN62233的100cm2的磁場傳感器
● 顯示單位可選（T，A/m，G）
● 操作簡單，輕松測量
● 標配PC應用軟件
● 3軸（XYZ）的波形輸出，復合真有效值輸出
● 可以用于無線充電評價系統TS2400
磁場測試儀的校正可在日本國內進行
JIS C 1910推薦使用進行過校正，可溯源的測試儀來進行測量。
HIOKI擁有NIST（美國國家標準與技術研究院）的可溯源的校正設備，可在國內進行校正。根據客戶的要求，可再磁場測試儀購買時或購買后進行校正時，有償提供檢查成績表、校正證明書、可溯源體系圖。關于校正詳情請向*近的HIOKI營業所垂詢。
可分別顯示3軸（X，Y，Z）磁場各自的值
電流流過的物體周圍產生的空間稱為“磁場”。磁場存在方向，根據方向，測量值不同。需要測量3軸全部。FT3470-50系列能夠同時測量3軸并求出合成值（R），從而做到準確的測量。
可選的磁通密度單位
根據標準和規定的不同，支持顯示T（特斯拉）、A/m （安培/米）、G （高斯）之類不同的磁通密度的單位。
磁通密度的合成有效值電平、暴露電平的模擬輸出功能（**FT3470-51，FT3470-52）
與存儲記錄儀或數據采集儀連接，可記錄磁通密度的有效值。便于長期的觀測。輸出率為0.1 mV/顯示值（以磁通密度單位T為基準）
磁通密度（T）的X，Y，Z各軸的波形輸出功能（**FT3470-51，FT3470-52）
連接示波器或存儲記錄儀，可觀測磁場的波形。輸出率為0.1 mV/顯示值（以磁通密度單位T為基準）
基本參數
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磁通密度（帶寬）
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10 Hz～400 kHz/ 10 Hz～2 kHz/ 2 kHz～400 kHz
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曝露等級
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一般/專業
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顯示
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X/Y/Z單軸，復合真有效值R（3464點），磁通密度（單位：T，G，A/m），曝露等級（單位：%）
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磁通密度
量程，精度
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[X/Y/Z軸]有效測量范圍：2.000 μT～2.000 mT,4檔量程
精度：±3.5% rdg. ±0.5% f.s.
[R軸]有效測量范圍：3.464 μT～3.464 mT, 4檔量程
精度：±3.5% rdg. ±0.5% f.s.
[有效測量頻率范圍] 10Hz-400kHz模式時: 50Hz～100kHz
10Hz-2kHz模式時: 50Hz～1kHz
2kHz-400kHz模式時: 5kHz～100kHz
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曝露等級
量程，精度
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[X/Y/Z軸]有效測量范圍：20.00%～200.0%, 2檔量程
[R軸]有效測量范圍：34.64%～346.4%, 2檔量程
精度：平滑邊緣50Hz～1kHz，±3.5% rdg. ±0.5% f.s.
精度：平滑邊緣1kHz～100kHz，±5.0% rdg. ±0.5% f.s.
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接口
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輸出種類：合成真有效值電平輸出，曝露等級輸出，磁通密度X/Y/Z各軸的波形輸出，輸出率：0.1mV/顯示點數
USB1.1：使用專用PC應用軟件讀取數據
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其他
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存儲功能：*大99個數據，減緩功能，*大值保持，自動省電，蜂鳴音ON/OFF
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電源
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5號堿性電池（LR6）×4, 連續使用時間：10h，或AC適配器9445-02（使用AC適配器時*大1.0VA）
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體積及重量
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主機：100W × 150H × 42D mm, 830g (含電池)
100cm2磁場傳感器：φ122 × 295L mm, 220g
3cm2磁場傳感器：φ27 × 165L mm, 95g
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附件
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100cm2磁場傳感器×1, 3cm2磁場傳感器×1,說明書×1,，CD-R（FT3470專用PC應用軟件DATA VIEWER）×1，USB連接線×1，5號堿性電池（LR6）×4，AC適配器9445-02×1，延長線9758×1，輸出線9759×1，攜帶盒×1
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標配PC應用軟件 (FT3470用DATA VIEWER)
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操作環境
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Windows 7 (32/64bit), Vista (32/64bit), XP
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功能
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真有效值采集/一次性讀取，CSV文件格式
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100 cm2 磁場傳感器 (標配)
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感應橫截面積：100cm2，符合IEC/EN62233標準的標準傳感器
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3 cm2 磁場傳感器 (標配)
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感應橫截面積：3cm2，可詳細分析所測目標的磁場分布
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