日本TOKYO DYLEC東京樂彩納米掃描流動粒度儀 SMPS3938E77
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產品名稱: 日本TOKYO DYLEC東京樂彩納米掃描流動粒度儀 SMPS3938E77
產品型號: SMPS3938E77
產品展商: TOKYO DYLEC東京樂彩
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簡單介紹
日本TOKYO DYLEC東京樂彩納米掃描流動粒度儀 SMPS3938E77
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的詳細介紹
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－1nmまで測定可能範囲が広がった走査式ナノ粒子粒徑分布計測器 －
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＜概要＞
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1μm以下のエアロゾルの粒徑分布を判斷するための基準として、TSIのSMPSTMは広く使われています。
モデル3777 Nano Enhancerとモデル3086 Differential Mobility Analyzer（1nm-DMA）の追加により、SMPSの測定可能範囲は、*小1nmまで広がりました。
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＜特徴＞
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高分解能データ：64ch/decadeの分解能を有します(1～50nmの粒徑分布で109chのチャンネル數)
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柔軟な使用が可能なコンポーネントデザイン
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幅広い計測粒徑レンジ：計測可能レンジは1～50nm
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3081A Long DMAの追加で1nmから1000nmまでの3decade分の測定可能
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拡散ロスを*少まで抑えた*適なシステム
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専用ソフトウェア Aerosol Instrument Manager(AIM)により操作可能
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精密な粒子測定：多モード?様々なサンプルを測定可能
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