TOPCON拓普康近紅外分光輻射亮度計SR-NIR;

高精度測定超微弱近紅外光

近年來，在顯示器及照明市場上，對“近紅外領域”的測定需求日漸增多。之前，行業內并沒有一款能夠簡便且高精度測定近紅外光的相關儀器。拓普康公司在通過開發生產SR系列分光輻射度計所培育并積累起來的技術基礎之上，開發出了“SR-NIR近紅外分光輻射度計”。本產品和其他型號的SR系列分光輻射度計一并使用，能夠測定380nm-1030nm的分光輻射亮度。

TOPCON拓普康近紅外分光輻射亮度計SR-NIR

特點：

●能測定從FPD到微弱發光的近紅外領域。

●高精度測定近紅外領域(600～1030nm)的分光分布。

●和本公司其他型號的分光輻射度計一并使用時，能夠測定可見光～近紅外光（380～1030nm）的分光分布。

用途：

●觀察各類FPD的近紅外領域的輸出

●觀察Ne、Ar的光譜線輸出。

●光學膜等的近紅外透過特性評價。

●其他光源的近紅外分光測量。

色度計/亮度計  BM-7A
SR-3AR，分光放射計
SR-LEDW，分光輻射亮度計
UVR-300，紫外線強度計
UVR-T1，紫外線強度計
IM-2D，照度計
BM-5AS，照度計
BM-9A，照度計/BM-920D，照度計
IM-600，照度計
IM-1000，顯色照度計
UD-T36，探頭
UD-400，探頭
ZV-16，
ZV-21，
亮度色度均勻性測定器 UV-10
RL-VH4DR，激光基準顯示儀
 
UD-T25，紫外輻照計
RD-80SA，響應時間測定儀/色彩輝度檢測器
RL-VH4DR，激光基準顯示儀
RL-VH4G2，激光基準顯示儀
RL-VH4DR+G2-ch，激光基準顯示儀
SR-3，分光輻射度計