四川成都重慶西安貴州云南供應美國TSI3938型掃描電遷移率粒徑譜儀

產品詳情

TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀被廣泛應用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標準。該系統同樣被應用于對液體懸浮顆粒進行**的納米顆粒粒徑測量。美國國家標準與技術局（NIST）使用TSI差分靜電遷移率分析儀（DMA）對60nm和100nm的標準參考粒徑進行測量。SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀粒徑測量是審慎的技術，在該技術方法中計數濃度會被直接測量而無需假設粒徑分布的形狀。該方法不依賴于粒子或液體的折射率且具有高度的**粒徑測量精度和測量可重復性。TSI的3938型儀器是SMPS第三代產品，歷經30年深受研究者信任。

特性和優點

• 高分辨率數據：高達167通道
• 1nm到1,000nm的極寬粒徑范圍
• 符合ISO 15900:2009標準
• 快速測量：<10s掃描
• 寬濃度范圍，高達 10 7 顆粒/cm 3
• 給您*大靈活度的組件設計
• 觸摸屏控制無需電腦操作
• 免工具安裝易于設置，自動發現組件
• 審慎的顆粒測量：適合多模樣品
• 不依賴于粒子和流體的光學性質
• 寬系統配置選項：可選水介質或丁醇介質凝聚粒子計數器；可選傳統的或無輻射中和器  

應用

• 納米技術研究和材料合成
• 大氣研究和環境檢測
• 燃燒和發動機排放研究
• 室內空氣質量測量
• 成核/凝結研究
• 吸入毒理學研究    

包含組件

• 與您自選DMA差分靜電遷移率分析儀配套的靜電分級器
• 七款凝聚粒子計數器之一
• Aerosol Instrument Manager®氣溶膠儀器管理軟件  

用于數據采集的電腦須單獨購買。

產品留言

標題

聯系人

聯系電話

內容

驗證碼

點擊換一張

注：1.可以使用快捷鍵Alt+S或Ctrl+Enter發送信息!
2.如有必要,請您留下您的詳細聯系方式!