直型偽同軸落射照明,可實現(xiàn)高照度,高均勻性和緊湊的外殼
使用半反射鏡可以在與相機軸正交的軸上進行照射和成像。 與IFVA相比,可以減小高度方向上的空間,并且可以節(jié)省空間。 由于可以通過鏡面反射進行檢查,因此對于檢查表面上的細微劃痕,進行打印以及檢查字符非常有效。 它可用于廣泛的應用,例如電路板圖案檢查和連接器引腳間距測量。
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