可信賴的**機型3GHz
● 測試電壓測量頻率:1MHz~3GHz
● 測量時間:*快0.5ms(模擬測量時間)
● 測量值偏差:0.07%(測量頻率1GHz時的代表值)
● 基本精度:±0.65% rdg.
● 緊湊主機僅機架一半大小,測試頭尺寸僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定)
● 分析模式下可以邊掃描測量頻率、測量信號電平邊進行測量
主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀專用的測試治具。
阻抗分析儀IM7580s:等效電路分析功能
能夠以測量結果為基礎推測5種等效電路模式的常數。 而且,可以通過模擬功能,使用推測結果或者任意的常數來顯示頻率特性的理想值。 此外,使用比較器功能,還能夠確定測量結果是否在判定區域內。
阻抗分析儀IM7580系列:使用SMD治具IM9201進行LCR測量
IM7580系列5種機型的測量頻率覆蓋了1MHz?3GHz。
和用于6種尺寸SMD的測試治具IM9201組合使用,能夠簡單準確的測量樣品。
阻抗分析儀IM7580系列:區域判定功能
分析模式的比較器功能中,可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。 “區域判定功能”是設置上限值和下限值的范圍,并以IN/NG來顯示判定結果。
阻抗分析儀IM7580系列:峰值判定功能
分析模式的比較器功能中,可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值來設置范圍,并以IN/NG來顯示測量的峰值是否在判定區域內。
阻抗分析儀IM7580系列:SPOT判定功能
分析模式的比較器功能中,可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。
“SPOT判定功能”是選擇任意的掃描點和參數,*多進行16點的判定。
阻抗分析儀IM7580系列:比較器功能
使用比較器功能,可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。
適用于判定樣品是否合格的功能。
阻抗分析儀IM7580系列:接觸檢查功能
使用接觸檢查功能,能夠檢查樣品和測量端口的接觸狀態,并確認接觸**情況和連接狀態。
阻抗分析儀IM7580系列:測試頭的連接方法
測試頭的連接線連接阻抗分析儀。
稍微彎曲扭力扳手的手柄后擰緊螺母(0.56 N?m)。
請注意不要擰過頭。
測量模式 | LCR (LCR測量),分析儀 (掃頻測量), 連續測量 |
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測量參數 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
精度保證范圍 | 100 mΩ~5 kΩ |
顯示范圍 |
Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~180.000°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
基本精度 | Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
測量頻率 | 1 MHz?3 GHz (設置分辨率100 kHz) |
測量信號電平 |
功率 (dBm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm 電壓(V) 模式: 4 mV~502 mVrms 電流(I) 模式: 0.09 mA~10.04 mArms |
輸出阻抗 | 50 Ω (10 MHz時) |
顯示 | 彩色TFT 8.4英寸, 觸摸屏 |
測量時間 | *快0.5ms(FAST、模擬測量時間、代表值) |
功能 | 接觸檢查、比較器、BIN判定(分類功能)、面板讀取/保存、存儲功能、等效電路分析、相關補償 |
接口 |
EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN RS-232C (選件), GP-IB (選件) |
電源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
體積和重量 |
主機: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg 測試頭: 90W × 64H × 24D mm, 300 g |
附件 | 測試頭×1, 連接線×1, 使用說明書×1, CD-R (通訊說明書) ×1, 電源線×1 |