日本HIOKI日置阻抗分析儀IM7580A 優勢供應
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產品名稱: 日本HIOKI日置阻抗分析儀IM7580A 優勢供應
產品型號: IM7580A
產品展商: 日本HIOKI日置
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簡單介紹
日本HIOKI日置阻抗分析儀IM7580A 優勢供應
日本HIOKI日置阻抗分析儀IM7580A 優勢供應
日本HIOKI日置阻抗分析儀IM7580A 優勢供應
的詳細介紹
*快0.5ms，高速、高穩定測量，節省空間的半個機架大小
● 測量頻率1MHz~300MHz
● 測量時間：*快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀IM7580A專用的測試治具。
阻抗分析儀IM7580s：等效電路分析功能
能夠以測量結果為基礎推測5種等效電路模式的常數。 而且，可以通過模擬功能，使用推測結果或者任意的常數來顯示頻率特性的理想值。 此外，使用比較器功能，還能夠確定測量結果是否在判定區域內。
阻抗分析儀IM7580系列：使用SMD治具IM9201進行LCR測量
IM7580系列5種機型的測量頻率覆蓋了1MHz?3GHz。
和用于6種尺寸SMD的測試治具IM9201組合使用，能夠簡單準確的測量樣品。
阻抗分析儀IM7580系列：區域判定功能
分析模式的比較器功能中，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。 “區域判定功能”是設置上限值和下限值的范圍，并以IN/NG來顯示判定結果。
阻抗分析儀IM7580系列：峰值判定功能
分析模式的比較器功能中，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值來設置范圍，并以IN/NG來顯示測量的峰值是否在判定區域內。
阻抗分析儀IM7580系列：SPOT判定功能
分析模式的比較器功能中，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。
“SPOT判定功能”是選擇任意的掃描點和參數，*多進行16點的判定。
阻抗分析儀IM7580系列：比較器功能
使用比較器功能，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。
適用于判定樣品是否合格的功能。
阻抗分析儀IM7580系列：接觸檢查功能
使用接觸檢查功能，能夠檢查樣品和測量端口的接觸狀態，并確認接觸**情況和連接狀態。
阻抗分析儀IM7580系列：測試頭的連接方法
測試頭的連接線連接阻抗分析儀。
稍微彎曲扭力扳手的手柄后擰緊螺母（0.56 N?m）。
請注意不要擰過頭。
基本參數
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測量模式
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LCR（LCR測量），分析（掃頻測量），連續測量
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測量參數
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Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
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精度保證范圍
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100 mΩ~5 kΩ
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顯示范圍
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Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
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基本精度
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Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°
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測量頻率
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1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步進)
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測量信號電平
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功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm
電壓 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms
電流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms
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輸出阻抗
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50 Ω (10 MHz時)
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顯示
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彩色TFT8.4英寸、觸屏
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測量時間
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*快0.5ms（FAST、模擬測量時間、代表值）
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功能
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接觸檢查、比較器、BIN判定（分類功能）、面板讀取·保存、存儲功能、等效電路分析、相關補償
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接口
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EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN
RS-232C (選件), GP-IB (選件)
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電源
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AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
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體積和重量
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主機: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg
測試頭: 61W × 55H × 24D mm, 175 g
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附件
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電源線 ×1, 測試頭 ×1, 連接線 ×1, 使用說明書 ×1, CD-R (通訊使用說明書) ×1
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