Max.100點/秒的高速測試，針痕深度減半

● 電容法測量,高速光板測試機(jī)
● Max.100點/秒的高速測試
● 鍍金基板及微細(xì)線路基板的測試時間提升30%
● 搭配新型探針CP1702-01以及*優(yōu)軟著陸控制，實現(xiàn)微細(xì)線路的高速測試
● 通過5aF的高分辨率的電容法測量，可檢出單獨線路欠缺的微細(xì)**
● 從一般的光板到FPC、BGA、CSP、MCM等微細(xì)、高精密基板都可檢測
● *小焊盤尺寸15um
● 除電容法測量外，標(biāo)準(zhǔn)配備電阻、電感、二極管以及電壓測量。另外通過MLCC測量功能，在JIS規(guī)格要求下也可實現(xiàn)電容測量。
● 通過豐富的測量功能及選件單元的結(jié)合，減少待測基板在現(xiàn)場的停放時間

電容法測量的優(yōu)點

電容測量法是飛針測試機(jī)縮短測量時間的不可或缺的方法。中間也可吸附的*大的優(yōu)點就是「不考慮形狀、層數(shù)即可測試」不通過測試驗證為良品的話，辛苦制成的產(chǎn)品是無法出貨的。 「可以測試」，這個對測試機(jī)來說是*重要的課題。 測試時間由測試點數(shù)與針痕考量綜合后設(shè)定的速度決定。 單面、軟板、封裝，CSP等無需在意形狀、厚度即可開始測試。

單面吸附式電容測量法的優(yōu)點（非導(dǎo)通測試）

可實現(xiàn)「１：其他網(wǎng)絡(luò)」間的非導(dǎo)通測試是單面測試機(jī)的特點。
雙面測試的飛針測試機(jī)上也可能會出現(xiàn)因基準(zhǔn)的GND層設(shè)定而只能使用電容法無法測量的測試點。因此電阻測量的測試網(wǎng)絡(luò)會增加，導(dǎo)致雙面板的測試時間對比微細(xì)的多層板還要長的現(xiàn)象頻繁地發(fā)生。
單面電容測量的話，因為是吸附在同一基準(zhǔn)電極上，即使是線路板間的短路，測試時間稍微延長一點的話就可以檢測出短路**。

穩(wěn)定的針痕控制及高速測試

只要進(jìn)行電氣測試，在線路板上就無可避免地會產(chǎn)生針痕。
雖是既定事實，但如果測試對象統(tǒng)一的話，測試機(jī)也可簡單地限定某些條件。 相對而言，在難以把握接觸面狀態(tài)的雙面測試中，探針的接觸構(gòu)造也變得復(fù)雜。 也就是說，使用吸附式測試機(jī)時，因為線路板的測試面是固定的，可迅速設(shè)定?盡量減少測試時間?的各種條件（速度、下壓量等）。機(jī)械構(gòu)造良好，操作簡單；即使不使用接觸檢查功能和測試面高度補(bǔ)償，*終也可實現(xiàn)測試時間的縮短。

● 減輕針痕的新型探針CP1072-01 (選件)

通過新設(shè)計的減輕針痕的探針與精密的軟著陸控制的結(jié)合，在微細(xì)線路測試時的速度設(shè)定可以更接近*高速進(jìn)行設(shè)定。（FA1116專用探針）
鐳射基板厚度補(bǔ)償 FA1950-06 (選件)，在自動測試開始時測量測試面的高度。以此減輕因基板翹曲以及厚度不均對針痕造成的影響。同時，還可防止因基板固定失誤造成的探針損壞。

探針配套

配合測試基板，可從各種組合中進(jìn)行配套選擇。
如對探針及針痕存在疑問事項，可聯(lián)系敝司營業(yè)擔(dān)當(dāng)。

用電容測量法，能保證絕緣電阻值嗎？

因為很難換算成正確的數(shù)值，答案是「不能！」。
飛針測試機(jī)電容測量法的絕緣測試相對于絕緣電阻測試，*大的優(yōu)點是實現(xiàn)了測試時間的大幅縮短。
因為通過測試電容值，已經(jīng)保證了基板的導(dǎo)通·非導(dǎo)通，因此不給客戶造成誤解也是非常重要的。
當(dāng)然，因為無法保證電阻值，所以必須使用可靠的有測試電容（F）數(shù)值保證（可追溯）的測試機(jī)。

從電容測量的結(jié)果中，進(jìn)行**網(wǎng)絡(luò)顯示以及**部位搜索的確認(rèn)軟件。

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