成都西野供應日本日立HITACHI掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000
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產品名稱: 成都西野供應日本日立HITACHI掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000
產品型號: FlexSEM 1000
產品展商: 日本日立HITACHI
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簡單介紹
成都西野供應日本日立HITACHI掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000
「先進的SEM設計得更加緊湊」
只有45厘米寬的緊湊型設計，實現了4.0 nm的分辨率。
全新開發的用戶界面和電子光學系統，使性能大幅提升。
成都西野供應日本日立HITACHI掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000
成都西野供應日本日立HITACHI掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000
的詳細介紹
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緊湊型設計，分辨率為4 nm*1
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通過高靈敏度二次電子探測器，背散射探測器，低真空探測器（UVD*2），實現低加速電壓/低真空下高質量圖像觀察
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操作簡捷，即使新手也能拍出高質量的圖片
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新開發的導航功能「SEM MAP」，便于快速鎖定視野
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大窗口（30 mm2）SDD能譜系統，便于快速分析元素成分*2
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*1
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設置在桌面時，分離主機和電源箱
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*2
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選配
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項目
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內容
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分解能*3
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4.0 nm @ 20 kV （SE：高真空模式）
15.0 nm @ 1 kV （SE：高真空模式）
5.0 nm @ 20 kV （BSE：低真空模式）
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加速電壓
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0.3 kV ～ 20 kV
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放大倍率
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6× ～ 300,000× （底片倍率）
16× ～ 800,000× （顯示倍率）
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低真空模式
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真空范圍：6 ～ 100 Pa
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電子槍
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預對中鎢燈絲
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樣品臺
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3-軸自動馬達臺
X：0 ～ 40 mm, Y：0 ～ 50 mm, Z：5 ～ 15 mm
R：360°, T：-15° ～ ＋90°
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大樣品尺寸
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直徑80 mm
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大樣品高度
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40 mm
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尺寸
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主機：450（W） x 640（D） x 670（H） mm
供電單元：450（W） x 640（D） x 450（H） mm
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探測器選配
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高靈敏度低真空二次電子探測器（UVD）
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能量分散型X線探測器（EDS）
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*3
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主機與供電單元組合使用
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PC、桌子、機械泵、顯示器需要本地采購
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