成都西野供應日本日立HITACHI高速缺陷觀測設備CR6300(Defect Review SEM)
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產品名稱: 成都西野供應日本日立HITACHI高速缺陷觀測設備CR6300(Defect Review SEM)
產品型號: CR6300
產品展商: 日本日立HITACHI
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簡單介紹
成都西野供應日本日立HITACHI高速缺陷觀測設備CR6300(Defect Review SEM)
運用ADR和高精度ADC來為提高良率做貢獻的Inline缺陷觀測SEM。
成都西野供應日本日立HITACHI高速缺陷觀測設備CR6300(Defect Review SEM)
成都西野供應日本日立HITACHI高速缺陷觀測設備CR6300(Defect Review SEM)
的詳細介紹
特長
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高畫質，高對此，高解析度SEM圖像
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高速缺陷攝像（ADR）
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人性化的GUI
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＜選項＞
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自動缺陷分類（ADC）
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Bare wafer自動觀測
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檢查制程說明書（iPQ）
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